和伍超声波扫描显微镜检测4大扫描模式一览！

    超声扫描显微镜SAT是一种无损检测设备，扫描范围广，扫描精度高，成像直观易读。在工业半导体，芯片，复合材料，航空航天材料，集成电路元器件，新能源汽车零部件，金刚石复合片，内部缺陷检测领域备受欢迎。超声扫描显微镜具备多种不同的扫描成像模式，让我们看看他们的区别吧！

Hiwave超声A扫描波形图

1：超声A扫描

    A扫描是波形显示，在示波器屏幕上横坐标代表时间，纵坐标代表反射波的强度，根据反射波的强度判断缺陷的严重程度，根据反射波在横轴的位置人工计算出缺陷的位置。操作人员需要根据示波器上的波形，将缺陷的大致范围标记在工件上

    超声无损探伤领域对于大尺寸工件经常使用A扫描进行缺陷判断，比如隧道，管道，油管，铁轨领域的专业探伤。

    缺点：A扫描的缺点在于检测结果不直观，没有基础的人无法理解；检测结果不易读，难以进行全面的分析。

2：超声C扫描

和伍超声扫描显微镜检测金刚石复合片C扫描图片

    在测量金刚石圆片过程中，如果采用C扫描模式，那么我们会看到超声探头在圆片上来回移动，并在原片上取多个点，观察每一处的波形，根据公式：厚度=时间×速度，计算出每一点的金刚石厚度，并将结果标记在原片上，圆片上取点的数量越多，厚度分布越清晰。

3：超声T扫描

    超声T扫描是超声波穿透过检测工件后得到的一种超声强度全息图像。可结合超声其他模式图像来综合判断工件缺陷的一种综合参考全息图像。如下图：

Hiwave超声扫描显微镜检测芯片T扫描图像

    上海和伍制造营研发的国产Hiwave超声扫描显微镜SAT使用不同的A扫描，B扫描，C扫描，T扫描等，可以灵活运用各类不同材料的检测工件。可以检测精度高，成像分辨率好，可达微米级别，性能稳定。用于检测材料内部各个不同界面缺陷。也可以结合各个不同界面的图像做出合理的缺陷分析，为检测工件保证质量品质。